日立X-MET8000在分析質(zhì)子膜貴金屬擔(dān)載量的應(yīng)用

X射線熒光（XRF）是一種分析技術(shù)，廣泛用于分析貴金屬擔(dān)載量分析。它提供可靠和快速的分析（在幾秒鐘內(nèi)即可獲得結(jié)果），是非破壞性的（分析后無(wú)需報(bào)廢樣品），任何操作員只需很少的培訓(xùn)即可使用。臺(tái)式XRF分析儀通常用于測(cè)量小型部件，而手持式XRF分析儀則提供真正的便攜式分析，非常適合在任何位置測(cè)試大型和/或重型部件。日立****的X-MET8000 手持式分析儀結(jié)合了高性能 X 射線管和高分辨率硅漂移探測(cè)器 （SDD），可提高質(zhì)子膜貴金屬擔(dān)載量分析所需的速度和性能。其堅(jiān)固性（IP54等級(jí)）和較長(zhǎng)的電池壽命（長(zhǎng)達(dá) 10-12 小時(shí)）使其成為進(jìn)貨或庫(kù)存檢查以及過(guò)程和質(zhì)量控制的**工具。

分析前無(wú)需樣品制備。用戶只需將分析儀測(cè)量窗口放在待測(cè)部件上，然后按下扳機(jī)即可開(kāi)始分析。初始結(jié)果會(huì)在 2 秒內(nèi)顯示在分析儀的集成觸摸屏上，并迅速更新測(cè)量結(jié)果直至測(cè)量結(jié)束。貴金屬擔(dān)載量的典型分析時(shí)間為10-30秒。

通過(guò)在待測(cè)樣品表面讀取多個(gè)讀數(shù)，或在分析過(guò)程中將X-MET8000的測(cè)量窗口滑過(guò)樣品表面，可以快速驗(yàn)證大面積樣品的擔(dān)載量均勻性。

在測(cè)試小型部件時(shí)，X-MET8000 的小光斑和相機(jī)選項(xiàng)可用于將 X-MET8000 的測(cè)量窗口**定位在樣品上，并測(cè)量尺寸小至 3 毫米的部件。

X-MET8000經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)后（可由客戶自由校準(zhǔn)）可為分析PEM貴金屬擔(dān)載量提供準(zhǔn)確且穩(wěn)定的結(jié)果。X-MET 8000的易用性和堅(jiān)固性使其成為車間工藝和質(zhì)量控制的理想工具。校準(zhǔn)軟件的多功能性還可以分析其他種類的PEM樣品（單元素和多元素），確?？焖俦O(jiān)測(cè)貴金屬的擔(dān)載量。由于X-MET8000的屏幕上可以在幾秒鐘內(nèi)顯示結(jié)果，因此可以當(dāng)場(chǎng)做出接受或拒絕產(chǎn)品或修改生產(chǎn)過(guò)程的決定，從而**限度地提高生產(chǎn)率并節(jié)省成本。