日立手持X熒光光譜儀X-MET8000系列性能優(yōu)勢解析！

手持式X熒光光譜儀X-MET8000是基于能量色散X射線熒光（XRF）光譜技術(shù)所開發(fā)，一“鍵”之下即可進行快速、無損傷元素分析。手持X熒光光譜儀已成為質(zhì)量控制、材料可靠性鑒定及金屬回收等領(lǐng)域中的標準檢測手段。

       日立手持X熒光光譜儀X-MET8000系列設(shè)計輕質(zhì)小巧，無論在什么環(huán)境中，都能夠提供高準確性、高準確度的檢測結(jié)果。

      日立手持式X熒光光譜儀X-MET8000將高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器（SDD）完美地耦合在一起，可為各種材料可靠性鑒定（PMI）和廢舊金屬回收應(yīng)用提供所需性能。X-MET8000手持式合金分析儀的優(yōu)勢如下：

準確鑒定各種合金：日立手持式X熒光光譜儀X-MET8000內(nèi)含有最**的牌號庫，其中包括可選型AISI DIN、JIS、和GB牌號庫，包含總共 1600多種合金。

強大的數(shù)據(jù)管理功能：可存儲多達 十萬個檢測結(jié)果，包括光譜譜圖和樣品圖像（若配有相機），結(jié)果和報告可直接下載到U盤或通過USB傳到電腦，也可利用 WiFi或藍牙實現(xiàn)共享。

操作簡單：直觀的大圖標式用戶界面，操作者幾乎不需任何培訓。同時還可按客戶要求定制檢驗結(jié)果顯示模式，只顯示重要信息，以便于快速進行判斷。

堅固耐用：符合 IP54（相當于 NEMA3）防護標準，具有**的防塵和防水性能。

快速更換防護窗口：無需使用任何工具便可更換已損壞或污染的窗口。

持久的續(xù)航能力：數(shù)秒內(nèi)即可顯示檢測結(jié)果，電池具有10-12小時的續(xù)航能力。