高性能金屬分析

上市時(shí)間：2019年12月
　　　Paschen-Runge和Czerny-Turner相結(jié)合的“蝶形”光學(xué)結(jié)構(gòu)； 中壓力氬氣凈化系統(tǒng)，提升長期穩(wěn)定性并減少維護(hù)；

波長范圍119-761nm，

可測量金屬材料中的O、N、H等氣體元素；

采用量子效率更高的CMOS；

全新設(shè)計(jì)的光源，精度更高，功耗更低。

新型OE750是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產(chǎn)品中低的檢出限。

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格，供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使用廢料作為基礎(chǔ)材料，因此鑄造廠和金屬制造商將雜質(zhì)和痕量元素控制在ppm范圍內(nèi)。在過去，OES對許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀。

這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE750的測量速度快、可靠性高且運(yùn)營成本低，可進(jìn)行高性價(jià)比的日常分析和質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。

為什么選擇 OE750

1. 值得信賴的結(jié)果 在同類產(chǎn)品中控制雜質(zhì)和痕量元素的光學(xué)分辨 率。

2. L綜合成本低 負(fù)擔(dān)得起的購買和運(yùn)行成本，提供更貴分析儀 器所具備的性能。

3. 保持運(yùn)行不間斷 設(shè)計(jì)可靠，維護(hù)和標(biāo)準(zhǔn)化要求低。

4. 支持連續(xù)生產(chǎn) 分析速度快，啟動(dòng)時(shí)間短，可快速反饋熔液質(zhì) 量。

只需一臺合理的OE750設(shè)備，就能提供快速的金屬質(zhì)量分析，滿足您所有的需求。

新型OE750是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產(chǎn)品中低的檢出限。

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格，供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使用廢料作為基礎(chǔ)材料，因此鑄造廠和金屬制造商將雜質(zhì)和痕量元素控制在低ppm范圍內(nèi)。在過去，OES對許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀。

這款直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識別金屬中含量低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE750的測量速度快、可靠性高且運(yùn)營成本低，可進(jìn)行高性價(jià)比的日常分析和質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。

根據(jù)應(yīng)用的不同，有關(guān)更多詳細(xì)信息，請索取我們的應(yīng)用報(bào)告。

備注儀器彩頁一：日立實(shí)驗(yàn)室臺式光譜儀OE720/750