日立手持式光譜儀X-MET8000用于鐵礦石快速現(xiàn)場分析的檢測

鐵礦石是最重要和最常開采的礦石之一。它在世界各地開采和生產(chǎn)，如中國，澳大利亞和巴西。絕大多數(shù)（98％）鐵礦石用于鋼鐵生產(chǎn)。

作為純金屬，鐵在自然界中很少單獨(dú)存在。盡管鐵是地殼中最豐富的元素之一（5％），但大部分鐵都與硅酸鹽和碳酸鹽礦物結(jié)合，這些礦物質(zhì)能效低，開采成本高。

最常見的鐵礦石來源是磁鐵礦（Fe3O4）和赤鐵礦（Fe2O3）。礦石中常見的鐵濃度在25％至65％之間。

輕質(zhì)微量元素如鋁（Al），硅（Si），磷（P）和硫（S）在鐵礦石選礦（冶煉）和最終產(chǎn)品（鐵，鋼）的實(shí)際使用中具有重要作用。根據(jù)材料的用途和這些元素的濃度，效果可以是好的也可以是壞的。因此，通常在鐵礦石分析中密切監(jiān)測Al，Si，P和S。

手持式X射線熒光（HHXRF）是一種眾所周知且廣泛使用的快速篩選和分析金屬礦石的方法。它為各種采礦樣品類型提供快速，準(zhǔn)確的現(xiàn)場分析，如鉆芯，巖石，巖屑和粉末。結(jié)果可在幾秒鐘內(nèi)獲得（無需等待耗時(shí)且昂貴的實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果），使用戶能夠在現(xiàn)場做出決定（例如鉆井方向）。

Hitachi High-Tech的日立手持式光譜儀X-MET8000 Expert Geo是一種HHXRF分析儀，具有多功能性，可用于采礦過程各個(gè)階段的地球化學(xué)分析，從勘探的早期階段到工藝廢物分析。它易于使用，有助于大大減少對實(shí)驗(yàn)室分析及其相關(guān)成本的需求。

其大面積硅漂移探測器（SDD）和革命性的BOOSTTM技術(shù)提供高于其他HHXRF型號10倍的靈敏度，提供測量有害元素所需的低檢測限，以及您可信賴的結(jié)果的出色精度。即使在炎熱的天氣，也不需要在分析之間進(jìn)行重新標(biāo)準(zhǔn)化或探測器冷卻時(shí)間。

在不同地點(diǎn)之間存在明顯差異時(shí)，用戶可以使用日立手持式光譜儀X-MET獨(dú)特的矩陣校正來進(jìn)一步調(diào)整校準(zhǔn)并提高準(zhǔn)確度。符合IP54標(biāo)準(zhǔn)并通過MIL-STD 810G測試，可獲得振動，沖擊和跌落，日立手持式光譜儀X-MET8000 Expert Geo堅(jiān)固耐用，不會讓您失望。

樣品制備

樣品制備很簡單。出于篩選目的，可以對鉆芯和巖石進(jìn)行分析，并使用日立手持式光譜儀X-MET的平均值功能為您提供真正有代表性的結(jié)果。為獲得****度，必須將樣品干燥并研磨成細(xì)粉（~100μm），并在裝有薄聚丙烯薄膜的樣品杯中進(jìn)行分析。

**先檢查分析儀的保護(hù)窗口膜是否有污染。

為此，使用日立手持式光譜儀X-MET隨機(jī)附帶的樣品，如果懷疑有污染（識別到空白中不存在的元素），則應(yīng)更換窗口膜。

應(yīng)使用便攜式支架和安全防護(hù)罩測量小巖石和樣品杯，以保護(hù)用戶免受散射輻射的影響。

性能和結(jié)果

日立手持式光譜儀X-MET8000 Expert Geo經(jīng)過工廠校準(zhǔn)。其采礦基本參數(shù)法（FP）校準(zhǔn)是半定量方法，已針對礦石基質(zhì)的分析進(jìn)行了優(yōu)化。他們依靠物理原理來計(jì)算測量樣本的元素組成。FP方法可用于各種樣品類型和基質(zhì)。