日立手持式光譜儀X-MET8000系列用于電鍍液的快速分析

監(jiān)測和控制電鍍?nèi)芤褐械慕饘俸繉ν苛瞎に囍陵P重要。如果鍍液中的金屬濃度過高或過低，則該過程可能會產(chǎn)生較差的表面光潔度，如起泡或顏色不均勻，并對涂層部件的性能產(chǎn)生不利影響。

現(xiàn)場快速，簡單分析（由非實驗室人員進行）的要求使得便攜式能量色散X射線熒光（EDXRF）光譜分析成為理想的分析技術。

儀器儀表

與其他可用技術不同，XRF快速，簡單，不需要使用化學品。結(jié)果可在幾秒鐘內(nèi)獲得，它是一種非破壞性技術，任何操作員都可以在較少的培訓下使用。

X-MET8000優(yōu)化的高性能X射線管與日立高科技的大面積硅漂移探測器（SDD）相結(jié)合，可提供常規(guī)控制電鍍液成分所需的速度和性能。其整體密封（IP54等級）和工業(yè)設計確保即使在惡劣的環(huán)境中也能**限度地防止灰塵和濺水進入。憑借其大圖標的直觀用戶界面，它易于使用，并且可以戴手套操作。

X-MET8000具有多種功能，使用戶能夠監(jiān)控電鍍槽液的成分，識別污染物，并確定電鍍部件的涂層厚度。X-MET的重量僅為1.5千克（包括電池），非常便攜，可以在整個工廠使用，從檢查進料（合金驗證）到最終部件的鍍層厚度。

樣品制備

樣品制備很簡單：只需將溶液倒入裝有Mylar?薄膜的樣品杯中，將其放在臺式支架的安全窗口中，然后按下X-MET的觸發(fā)器即可開始分析。

注意：安全窗口也配有聚酯薄膜，如果樣品杯中有泄漏，可以防止溢出到X-MET儀器上。

不使用時，臺式支架可以折疊起來并安全放置，需要的存儲空間較小。

表現(xiàn)和結(jié)果

X-MET可用于確定單元素和多元素解決方案的組成。本節(jié)中顯示的示例突出顯示了X-MET提供的典型性能。

通過測量至少3個具有已知成分的樣品來建立每種應用的簡單經(jīng)驗校準，以建立金屬含量和X射線信號之間的關系。測量每種溶液30秒。

總結(jié)

經(jīng)過校準，Hitachi High-Tech的X-MET8000可為各種電鍍應用提供準確且可重復的解決方案分析。

X-MET的易用性和堅固性使其成為車間的理想工具，用于零件或部件的進貨檢驗，以及電鍍工藝和最終質(zhì)量控制。

通過幾秒鐘即可獲得結(jié)果，可快速調(diào)節(jié)鍍液的化學成分，防止不符合規(guī)格的鍍層部件被剔除，從而**限度地提高生產(chǎn)率并節(jié)省成本。