為什么OE720火花光譜儀非常適用于鋁分析

因為鋁能與許多材料形成合金，因此被用于許多不同的行業(yè)，如建筑、交通運輸和食品。多功能性和輕質(zhì)性使得鋁及其合金特別適用于重視輕量化的行業(yè)，如汽車和航空航天。

然而制造鋁鑄件的過程十分困難。若想要讓最終的材料具備所需的性能，則必須注意控制熔體中的元素。最有效的熔體控制方法是使用直讀光譜儀（OES）進(jìn)行分析。然而，并非所有的直讀光譜儀都具有相同的性能，必須格外注意鋁，因為某些分析儀可能檢測不出一些必須被控制在極低限值的元素。

日立推出的新型OE720火花光譜儀旨在以吸引人的價格提供高性能。這意味著對于通常需要專業(yè)儀器才能檢測的元素，如磷和銻，可以通過OE720在低檢出限下對其進(jìn)行檢測。

OE720低檢出限對于鋁熔煉控制非常重要

OE720光譜儀新設(shè)計的光學(xué)系統(tǒng)提供了更高級別的光學(xué)分辨率，CMOS檢測器技術(shù)可確保在極低檢出限下檢測多種元素。這意味著，可以在近共晶和過共晶鋁硅合金中檢測出含量低至20ppm的磷，并且可以控制銻、鉍、鋰、鍶和鈉的含量，以確保**的結(jié)構(gòu)改進(jìn)。

這一高性能功能使用戶能夠驗證鋁熔體中的雜質(zhì)元素磷、鈣、鉍和銻是否符合120ppm的**總量。

下表顯示OE720在關(guān)鍵鋁元素上的性能：

提高OE720性能的技術(shù)特性

OE系列有兩種型號，分別是OE720和OE750。兩者都能在整個金屬元素譜中提供高性能。OE720將檢測熔體中的所有非氣態(tài)元素，OE750增加了氣體元素檢測功能，鋁分析則不需要這一功能。

這兩種型號都受益于這些創(chuàng)新：

• 由于波長范圍為174-670nm(OE720)和119-670nm(OE750)，因此能夠檢測多種元素。此外，這兩種型號均可根據(jù)要求將波長范圍延伸至766nm。

• 完全重新設(shè)計的光學(xué)系統(tǒng)和***的CMOS檢測器設(shè)計可在整個波長范圍內(nèi)提供極高的光學(xué)分辨率，從而提高儀器的檢出限功能。

• 密封火花臺設(shè)計和中壓力系統(tǒng)具有出色的穩(wěn)定性和潔凈度，能減少必要的維護(hù)周期，增加分析儀的正常運行時間。

• 中壓力系統(tǒng)和新的火花臺設(shè)計能減少所需的氬氣量，并將功耗降低一半。這些改進(jìn)措施有助于降低運營成本，對于全天候使用儀器具有重大意義。

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