手持式光譜儀的使用保養(yǎng)知識

1. 儀器須避免碰撞與沖擊：

  貴重精密儀器須避免碰撞與承受沖擊.應加倍小心使用。 應經常檢查儀器外觀是否完好無損,是否有沖擊碰撞痕跡.

   2. 儀器須避免異常響聲：

儀器在使用過程中當有異常響聲時，應立即停止工作。

   3. Kapton分析窗損壞：

Kapton 分析窗能起到有效地保護機器內部環(huán)境。一旦發(fā)現損壞，就應該立即更換。不得使用無Kapton分析窗的分析儀進行任何測試。也不能使用其它薄膜粘貼在 Kapton分析窗上進行測試,由于探測器（Detector）、X射線管（X-tube）是精密部件它們與Kapton分析窗很接近,在更換 Kapton分析窗時,一定要先清理Kapton分析窗上面、周邊的污垢與測試樣品殘渣等異物，以免異物進入機器內部。此外，請小心松開或旋緊 Kapton分析窗螺絲，在松開或旋緊Kapton分析窗螺絲的過程中，可以用手擋住測試孔，以免螺絲批意外伸進測試窗口損壞探測器、X射線管（X- tube）等精密零部件。一旦探測器（Detector）、X射線管（X-tube受損，整個分析儀就會造成不可逆轉的物理性損壞，任何物理性損壞皆不屬 于保修范圍。硬件損壞的機器必須聯系售后。

  4. 儀器須避免過度發(fā)熱：儀器長時間工作會發(fā)熱，機器連續(xù)作業(yè)2小時應休息20分鐘，下班后機器電源必須關閉以免發(fā)熱.儀器使用環(huán)境應加強空氣流通。

  5. 儀器不使用時應裝入所配備的橡膠手提箱內，并存放在干燥、陰涼的環(huán)境中。

  6. 顯示屏可以用手指直接觸摸使用，不要使用尖銳的物體觸摸顯示屏，以免劃傷屏幕。觸摸屏幕不要用力過大、過猛，并防止外力撞擊。

    7. 探測器為易損部件，禁止任何物體伸進探測窗口內部。

  8. 樣品的處理

   待分析的樣品應該是均勻的、純粹的，不能有涂層、鍍層或氧化層，以免產生干擾。

   樣品的測試面應平整光滑。凹凸不平的表面會影響分析結果的準確性。

   探測窗口和樣品之間為零距離，不應有空隙。

   分析樣品時，儀器和樣品要保持穩(wěn)定，不要晃動。

   分析較小較薄的樣品時，要注意其背后不應有其他物體襯托，以防干擾。

   大型的金屬樣品，應多選幾個點，多測幾次，以獲取更加準確的結果。

   9.分析儀在在遇到故障時應首先咨詢售后，簡單的故障可在工程師的指導下處理。處理后還是不能排除故障再咨詢伊諾斯服務工程師，所有來自軟件的故障皆可排除，對于硬件故障則需要送回維修中心維修。儀器在送回維修中心前客戶應仔細檢查機器是否有物理性損壞。